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實(shí)驗室儀器環(huán)境試驗方法分析

2020-10-10 17:07:00 

環(huán)境試驗一般根據(jù)實(shí)驗室儀器的工作環(huán)境而確定具體的試驗內(nèi)容,并按照國家規(guī)定的方法進(jìn)行試驗。

實(shí)驗室儀器環(huán)境試驗方法分析

環(huán)境試驗一般只對小部分實(shí)驗室儀器進(jìn)行,常見的環(huán)境試驗內(nèi)容和方法如下:

1、溫度試驗

溫度試驗用以檢查溫度環(huán)境對實(shí)驗室儀器的影響,確定實(shí)驗室儀器在高溫和低溫條件下工作和儲存的適應(yīng)性,它包括高溫和低溫負(fù)荷試驗、高溫和低溫儲存試驗。

高溫試驗用以檢查高溫環(huán)境對儀器儀表的影響,確定實(shí)驗室儀器在高溫條件下工作和儲存的適應(yīng)性,包括高溫負(fù)荷試驗和高溫儲存試驗。

低溫試驗用以檢查低溫環(huán)境對實(shí)驗室儀器的影響,確定實(shí)驗室儀器在高溫條件下工作和儲存的適應(yīng)性,包括低溫負(fù)荷試驗和低溫儲存試驗。溫度負(fù)荷試驗是將樣品在不包裝、不通電和正常工作位置狀態(tài)下,把實(shí)驗室儀器放入溫度試驗箱內(nèi),進(jìn)行額定使用的上、下限工作溫度的試驗。

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